| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 100 т.р. |
Описание
Предназначен для измерения неровности поверхности, для контроля качества поверхностей в различных областях машиностроения, материаловедения, микроэлектроники и нанотехнологий. А так же, профилометр можно использовать в области криминалистики. Анализ поверхности проходит только за счет оптических эффектов (на пример, конфокального сканирования, или интерфометрии).
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Оптический рефлектометр Yokogava AQ7275 | Япония | Аренда, Заказ исследования | Курск |
| Оптический теодолит УОМЗ, 4Т30П | РФ | Аренда, Заказ исследования | Владикавказ |
| Аттенюатор оптический перестраиваемый РНОТОМ 781 ZA | Канада | Аренда, Заказ исследования | Уфа |
| Квадрант оптический КО-10 | РФ | Аренда, Заказ исследования | Тула |
| Комплект оптический демонстрационный | РФ | Аренда, Заказ исследования | Уфа |
| Оптический анализатор AXIO SCOPE A1 | РФ | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Комплекс измерительный электронно-оптический JSM 6610LV (Jeol) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Рязань |