| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Прибор позволяет исследовать образцы без напыления токопроводящим слоем, в том числе образцы металлов, керамики, полимеров и композитов, а также образцы эмульсий частиц абразивного износа в смазочном масле, отработанные масляные фильтры, лакокрасочные покрытия и пр. образцы, которые не могут исследоваться в обычных высоковакуумных камерах электронных микроскопов. Прибор оснащен дополняющими друг друга аналитическими приставками для комплексного анализа поверхности: спектрометрами с энергетической и волновой дисперсией (EDS) для определения химического состава; детектором обратно рассеянных электронов (EBSD) для исследования микроструктуры и текстуры (построение карт поверхности образца с определением зёренной структуры, анализом спектра разориентировок границ зёрен; построение полюсных фигур).