Спектроскопический эллипсометр SER 800, Sentech Instruments
28 мая 2019
264
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2018 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для высокоточного измерения толщины и оптических характеристик как однослойных пленок, так и многослойных пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей. Измерение нанопленок. Спектральный диапазон: 380 (190) - 1000 (2500 или 3500) нм. Программное обеспечение не ограничивает количество измеряемых слоев. На практике количество измеряемых слоев определяется свойствами образца.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Спектрометр наносекундного лазерного импульсного фотолиза LP920-KS (Edinburgh Instruments) | Великобритания | Аренда, Заказ исследования | Ростов-на-Дону |
| Универсальный многофункциональный ИК анализатор с диодной матрицей DA 7200 (Perten Instruments) | Швеция | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Спектрофотометр UNICO S2100UV (United Products & Instruments) | США | Аренда, Заказ исследования | Москва |
| Рамановский спектрометр LabRam HR UV 800 | Германия | Аренда, Заказ исследования | Кемерово |