Рентгенофлюоресцентный анализатор -толщиномер гальванических покрытий X-Strata 920

Рентгенофлуоресцентный толщиномер X-STRATA 920

Аналитические методы в соответствии с ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987 и IEC 62321
Oxford Instruments самостоятельно изготавливает рентгеновскую трубку мощностью 50W (вольфрам) которая сочетает в себе высокую стабильность, более короткое время измерения, надежность и длительный срок жизни.
Высокое разрешение Xe пропорционального детектора обеспечивает оптимальную эффективность счета на любых уровнях энергий и улучшает диапазон обнаружения элементов
4096 каналов цифрового многоканального анализатора обеспечивают высокую скорость проходящего сигнала, коррекцию времени простоя и пульсаций для лучшей статистики измерений
Термическая стабилизация и программная функция Spec-Cal, возможность внутреннего тестирования и автоматическая коррекция, обеспечивают хорошую стабильность во времени
Коллиматор 0,3 мм обеспечивает оптимальную фокусировку потока, расширяя возможности измерения (заказывается дополнительно)
Приспособление для первичной фильтрации оптимизирует условия возбуждения и улучшает соотношений сигнал/шум
Лазер автоматически определяет правильное положение фокуса по оси Z на определенном расстоянии от анализируемой поверхности, улучшая тем самым точность результата
Размеры измерительного стола: 560 мм х 600 мм, максимальная высота образца 33 мм (возможно 160 мм)
Oxford Instruments поставляет сертифицированные стандарты (по толщинам) обеспечивая надежность результатов
Надежный и прочный корпус позволяет эксплуатировать анализатор в производственных условиях
Компактный дизайн позволяет разместить анализатор на небольшой рабочей поверхности
Сервисная поддержка по всему миру осуществляется экспертами в области рентгеновской флюоресценции
Анализатор является высочайшим достижением за более чем 25-ти летний опыт работы Oxford Instruments


Неразрушающий анализ толщины многослойных покрытий и определение химического состава без предварительной подготовки поверхности
Возможность работы в режиме 24/7
100 % входной контроль
Быстрый, точный, надежный
Диапазон измеряемых элементов от Ti до U
Послойное измерение толщины по 5 слоям (4 слоя покрытия + основание)
Одновременно анализ химического состава по 25 элементам
Анализ покрытия в заданных точках поверхности
Анализ маленьких образцов площадью от 150 мкм.
Анализ растворов
Анализ покрытий на образцах неровной формы (печатные платы, проволока и т.д.)
Обнаружение вредных примесей на уровне 10-3 – 10-4 %
Экспорт результатов в Excel, Программа для создания отчетов
Гибкое программное обеспечение на базе Метода Фундаментальных Параметров SmartLink® FP на базе платформы Windows® XP, со встроенным генератором отчетов Report Generator LE
Измерение толщины до 5 слоев (4 слоя плюс основа) / 15 элементов / межэлементная коррекция
Одновременный анализ до 25 химических элементов