Сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Teсnai G2 F20 S-TWlN, FEI
26 июля 2019
504
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2013 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для высочайшего качества визуализации в режимах просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ/TEM) и сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СПЭМ/STEM). Встроенные детекторы и поддержка технологии ChemiSTEM позволяют выполнять анализ на субнанометровом уровне и трехмерную томографию в режиме EDX (энергодисперсионного микроанализа). Ток аналитического зонда в 3-5 раз выше стандартных значений. Высочайшая скорость счета EDX при заданном токе луча. Быстрое составление карт распределения химических элементов в режиме EDX со скоростью до 100 000 спектров/сек. Большее поле обзора при составлении карт распределения химических элементов. Значительно большая чувствительность к легким элементам.