Времяпролетный масс-спектрометр вторичных ионов TOF-SIMS 5, ION TOF
8 августа 2019
389
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Прибор позволяет получить информацию об элементном, молекулярном или изотопном составе поверхности, распределении изотопов/элементов по поверхности, снимать диффузионные профили и т.д. Метод ВИМС основан на взаимодействии поверхности образца с первчными ионами, обладающими некоторой известной энергией, которая частично поглощается образцом и приводит к эмиссии так называемых вторичных ионов. Вторичные ионы впоследствии анализируются при помощи масс-спектрометра, что позволяет определить элементный, изотопный или молекулярный состав поверхности. Площадь столкновения первичных ионов с поверхностью очень мала, что обуславливает высокую точность метода.