Оптический профилометр S neox 3D, Sensofar

Предназначен для получения быстрых неинвазивных измерений микро и нано-геометрии поверхностей различных конфигураций. Эта система с технологией двойного сенсора очень удобна для научно-исследовательской деятельности и лабораторного анализа качества. Основанный на технологии микро-дисплея, прибор позволяет производить быстрое конфокальное сканирование за менее чем 10 секунд. Благодаря использованию технологии с отсутствием движущихся частей, компактным размерам и надежной модульной конструкции прибор является отличным аналитическим инструментом. Прибор имеет дискретность измерения от 0,5 нм до нескольких нм, оснащен двойным вертикальным сканером, который работает в комбинации с прецизионным подвижным столиком и пьезо-сканером. Это позволяет добиться наивысшей точности и повторяемости измерений среди приборов, представленных сегодня на рынке.