Инвертированный оптический микроскоп с моторизированным столиком Axio Observer.Z1m, Carl Zeiss

30 октября 2019
323
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Татарстан, Казань
Страна производства Германия
Год производства 2012
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур, а так же служит для исследования в отраженном и проходящем свете крупных и тяжелых деталей в металлографии, а именно: исследование материалов и деталей, контроль этапов обработки, определение поверхностных свойств деталей, глубин микронеровностей.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Исследовательский поляризационный микроскоп Lecia DM2700P для работы в проходящем и отраженном свете, в комплекте с цифровой камерой Lecia DFC495, подготовленный для проведения термобарометрических исследований Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Цифровой микроскоп Idonus SMA (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV Китай Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Флуоресцентный цифровой микроскоп «Olympus» «Olympus» CX41 Япония Аренда, Заказ исследования Улан-Удэ
Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск