Микроскоп инвертированный Axiovert 200MAT, Carl Zeiss

19 декабря 2019
358
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Свердловская область, Екатеринбург
Страна производства Германия
Год производства 2009
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа до 500 000 тыс. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Предназначен для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности. Метод обзора - светлое или темное поле, люминесценция, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст. Микроскоп оснащен двумя окулярами типа W-PL 10х/23 и пятью объективами с увеличением 5х, 10х, 20х, 50х, 100х. Микроскоп оснащен двухстрочным ЖК-дисплеем, расположенным на магнитной опоре. В верхней строке дисплея отображается позиция и увеличение объектива, в нижней строке - яркость лампы через штриховую полосу и соответствующее значение напряжения (один штрих соответствует 0,4 V). При выключенной галогенной лампе в нижней строке ЖК-дисплея появляется информация «Hal off» вместо штриховой полосы яркости лампы.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп оптический Olympus CX41 с люминесцентной приставкой (набор комплектующих - CX-RFA2, CX-DMB-2, CX-DMG-2, U-LH50HG-1-5, 50W/AC/L2 MER-CURY производства OLYMPUS), фазовоконтрастным устройством и системой фотодокументации Япония Аренда, Заказ исследования Краснодар
Микроскоп "Axio imager A2" c цветной цифровой камерой Axio imager A2 1169/2-1 Ca Германия Аренда, Заказ исследования Якутск
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Исследовательский поляризационный микроскоп Lecia DM2700P для работы в проходящем и отраженном свете, в комплекте с цифровой камерой Lecia DFC495, подготовленный для проведения термобарометрических исследований Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Цифровой микроскоп Idonus SMA (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV Китай Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа Япония Аренда, Заказ исследования Пермь