Инспекционный микроскоп ECLIPSE L300N, Nikon
6 февраля 2020
334
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2018 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для изучения и контроля качества интегральных схем. Прибор позволяет осуществлять наблюдения при диаскопическим освещении с использованием различных методик: светлое и темное поле, простая поляризация и DIC (дифференциально-интерференционный контраст). Кроме того, имеется возможность осуществления эпифлуоресцентной микроскопии, в том числе с применением УФ-возбуждения при длине волны 365 нм. Высокая эффективность микроскопии полупроводников и органического электролюминесцентного материала.