| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2016 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для определения толщин тонких плёнок и многослойных гетероструктур, определения коэффициентов преломления и поглощения в ИК-диапазоне, исследования физико-химических свойств диэлектрических, полупроводниковых, полимерных и металлических структур. Основные характеристики и возможности: эллипсометрия с вращающимся компенсатором; спектральный диапазон от 2 до 33 микрон (300 до 5000 см-1); спектральное разрешение: от 1 до 64 см-1; угол падения: от 30° до 90° (± 0,005°); время измерения: от 1 до 30 минут (1 угол при разрешении 16 см-1); неразрушающий анализ.