Сканирующий двухлучевой электронный/ионный микроскоп CrossBeam 340 (Carl Zeiss)
19 мая 2020
561
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ростовская область, Ростов-на-Дону |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2016 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для работ по анализу и конструированию нанокомпозиционных материалов и покрытий. Рабочая станция ZEISS Crossbeam сочетает в себе сканирующий электронный микроскоп, который позволяет получать объемные изображения и проводить химический анализ объектов с нанометровым разрешением и технологию сфокусированного ионного пучка (FIB), благодаря которой можно проводить наномодификацию поверхности и получать материалы, обладающие качественно новыми свойствами.