Сканирующий двухлучевой электронный/ионный микроскоп CrossBeam 340 (Carl Zeiss)
19 мая 2020
336
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Ростовская область, Ростов-на-Дону |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2016 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Да |
Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для работ по анализу и конструированию нанокомпозиционных материалов и покрытий. Рабочая станция ZEISS Crossbeam сочетает в себе сканирующий электронный микроскоп, который позволяет получать объемные изображения и проводить химический анализ объектов с нанометровым разрешением и технологию сфокусированного ионного пучка (FIB), благодаря которой можно проводить наномодификацию поверхности и получать материалы, обладающие качественно новыми свойствами.