Сканирующий электронный микроскоп LYRA 3 XMH, TESCAN
25 мая 2020
634
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Чехия |
| Год производства | 2015 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для исследовательской работы и высокотехнологичного применения. Удобное сочетание сканирующего электронного микроскопа высокого разрешения и ионной колонны с различными дополнениями открывает широкие перспективы в использовании системы. Современное устройство электронно-оптической колонны с уникальной технологией In-Flight Beam Tracing™ для контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров электронного пучка в реальном времени делает результаты еще более стабильными. Простой для изучения встроенный язык программирования открывает доступ к большинству элементов программного обеспечения для управления микроскопом, а также позволяет создавать собственные процедуры автоматизации.