| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Корея |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Измерительные решения для различных задач:Электрических, Диэлектриктрических, Оптических. Малый вес 650 - 950 г. Идеально подходит для монтажа на различных приборах.
Малый объем. Короткое время газонасыщения. Вакуум. Все камеры проходят вакуум-тестирование: до 10-3 мбар (с роторным насосом). 10-6 мбар (с турбомолекулярным насосом). Безопасность. CE сертификат
Микрозондовая станция подходит для анализа электрических и оптических свойств материалов. Её преимуществом является измерение на месте электрических и оптических свойств в различных условиях окружающей среды: вакуум, температура, поток газа, влажность, облучение светом.
Применения микрозондовой станции NEXTRON:
-характеристика фотоэлектрических элементов и термоэлектрических материалов
-тестирование транзисторов, диодов, светодиодов
-измерение теплопроводности объемных и тонкопленочных материалов (Метод 3 omega;)
-измерение электрических/оптических параметров материалов фазового перехода (металлы, окислы, мемристоры,)
-характеристика механических и электромеханических МЭМС/НЭМС резонаторов (эталонные часы, сенсоры массы)
-характеристика микрокатушек и микроантенн для индуктивных сенсоров (импедансная спектроскопия биологических тканей, Invivo RMN)
-тестирование емкостных, резистивных и резонансных микро/нано-датчиков
Малый объем. Короткое время газонасыщения. Вакуум. Все камеры проходят вакуум-тестирование: до 10-3 мбар (с роторным насосом). 10-6 мбар (с турбомолекулярным насосом). Безопасность. CE сертификат
Микрозондовая станция подходит для анализа электрических и оптических свойств материалов. Её преимуществом является измерение на месте электрических и оптических свойств в различных условиях окружающей среды: вакуум, температура, поток газа, влажность, облучение светом.
Применения микрозондовой станции NEXTRON:
-характеристика фотоэлектрических элементов и термоэлектрических материалов
-тестирование транзисторов, диодов, светодиодов
-измерение теплопроводности объемных и тонкопленочных материалов (Метод 3 omega;)
-измерение электрических/оптических параметров материалов фазового перехода (металлы, окислы, мемристоры,)
-характеристика механических и электромеханических МЭМС/НЭМС резонаторов (эталонные часы, сенсоры массы)
-характеристика микрокатушек и микроантенн для индуктивных сенсоров (импедансная спектроскопия биологических тканей, Invivo RMN)
-тестирование емкостных, резистивных и резонансных микро/нано-датчиков
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Станция распределенного ввода вывода Simatic S7 ET 200 S | Германия | Аренда, Заказ исследования | Омск |
| Модульная контрольно-измерительная станция в формате PXI National Instruments | США | Аренда, Заказ исследования | Санкт-Петербург |