Сканирующий зондовый микроскоп Solver Next, НТ-МДТ
27 августа 2020
573
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Владимирская область, Владимир |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Микроскоп позволяет проводить исследования: топографии поверхностей материалов в режиме атомно-силовой микроскопии; распределения латеральных сил (например, силы трения); намагниченности образцов при использовании зондов с магнитным покрытием (Co); распределения на поверхности проводимости, электрического заряда, потенциала (методом зонда Кельвина) при использовании зондов с проводящим покрытием (TiN); вольт-амперной характеристики покрытий в точке; проведение литографии. Топографию проводящих образцов на микроскопе можно исследовать в режиме туннельной микроскопии. Направление исследований - анализ порошков, покрытий, статистическая обработка данных.