Измерительный модуль на базе микроскопа TM3030 Plus, Hitachi

3 сентября 2020
497
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Карелия, Петрозаводск
Страна производства Япония
Год производства 2018
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Предназначен для контроля качества процесса производства гибридных многокристальных микросхем. Технические характеристики электронного микроскопа: Увеличение: х15-30 000. Ускоряющее напряжение : 5 кВ, 15 кВ. Перемещение столика : Х: ±35 мм, Y: ± 35 мм. Разрешение: 30 нм. Макс. размер образца: 70 мм в диаметре, 50 мм в высоту.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп люминесцентный Axiostar plus (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Томск
Микроскоп Axioskop 2 Plus (Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп Eclipse C1 plus (Nikon) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Световой просвечивающий бинокулярный микроскоп Axiostar plus Германия Аренда, Заказ исследования Ханты-Мансийск
Модуль для тестирования НЕКСТ РФ Аренда, Заказ исследования Якутск
Настольный модуль электронного сканирования Phenom (FEI Company) Нидерланды Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Нано-склеро-метрический модуль "Интегра" (МДТ) РФ Аренда, Заказ исследования Воронеж
Модуль с инвертированным оптическим микроскопом для зондовой нанолаборатории СПЕКТРА ИНВ РФ Аренда, Заказ исследования Якутск
Многофункциональный сканирующий зондовый микроскоп SolverNext (модуль для тестирования) РФ Аренда, Заказ исследования Якутск
Модуль с инвертированным оптическим микроскопом для зондовой нанолаборатории СПЕКТРА_ИНВ РФ Аренда, Заказ исследования Якутск