Растровый электронный микроскоп TM4000 Plus, Hitachi
9 марта 2021
564
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Красноярский край, Красноярск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2019 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для получения и обработки увеличенных (до x100 000) изображений поверхности образцов в обратно отражённых (backscattered-electrons, BSE) и вторичных (secondary electrons, SE) электронах. Области применения: индивидуально-типологические особенности морфогеометрии поверхности; размер и форма частиц, зёрен, включений; локальный электроннозондовый рентгеноспектральный микроанализ (EDX): качественный и полуколичественный элементный (от B до Am) анализ матрицы и включений; элементное картирование поверхности при различных увеличениях (от x15 до x100000).