Сканирующий электронный микроскоп SU3500 SEM, Hitachi
18 марта 2021
493
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Красноярский край, Красноярск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2017 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для наблюдения увеличенных изображений поверхностей как проводящих, так и диэлектрических образцов. Помимо изображения поверхности и топографии поверхности имеется возможность определения качественного и полуколичественного составов исследуемых образцов. Элементное картирование в режиме волновой и энергетической дисперсии адекватно отображает распределение элементов в образце. Режим наблюдения дифракции обратно отражённых электронов позволяет исследовать кристаллическую структуру поверхностных слоев. Материаловедение, минералогия, геология, медицина, металлургия, нанотехнология, физика полупроводников. Кристаллографический анализ ровных поверхностей.