Электронно-зондовый микроанализатор JXA-8230 Superprobe, Jeol

5 июля 2021
482
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск
Страна производства Япония
Год производства 2016
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 10 млн руб
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги —
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Предназначен для локального количественного анализа большого количества образцов в диапазоне элементов от бериллия до урана, построения карт распределения элементов по площади, вдоль профиля и т.д. Предел обнаружения для большинства элементов составляет не хуже 10ppm, в зависимости от применяемых стандартов, способа пробоподготовки и методик измерения. Электронно-оптическая система с мощной системой стабилизации, от 1 до 5 волновых спектрометров плюс один энергодисперсионный, большой выбор программного обеспечения, высокоточный гониометрический столик с моторизованным приводом, – все это позволяет оператору днем только намечать точки для анализа. Микрозонд проанализирует все в автоматическом режиме. В отличие от приборов предыдущих поколений, новые модели позволяют получать не только анализы, но и изображения высокого качества во вторичных и отраженных электронах, картины катодолюминесценции и картины дифракции отраженных электронов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Многолучевая система JIB-4500 Multibeam (Jeol), оснащенная электронной и ионной пушкой Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Растровый электронный микроскоп JSM-6490LV (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград
Просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-2100F с системой подготовки проб РФ Аренда, Заказ исследования Томск
Растровый электронный микроскоп JSM 6510LA (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Челябинск
Термополевой просвечивающий электронный микроскоп JEOL JEM-3200FS Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM 2100F (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Система микроанализа для растрового электронного микроскопа JEOL JSM-6490LV Великобритания Аренда, Заказ исследования Магнитогорск
Просвечивающий электронный микроскоп JEM-2100 (JEOL) Япония Аренда, Заказ исследования Москва