Автоэмиссионный электронный микроскоп MIRA3 LMU, TESCAN
8 июля 2021
458
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Новосибирская область, Новосибирск |
| Страна производства | Чехия |
| Год производства | 2012 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп позволяет получить изображения поверхности исследуемого объекта с высоким разрешением, особенно при низких ускоряющих напряжениях. Источник электронов - Катод Шоттки высокой яркости для получения изображений высокого разрешения, высокой контрастности, с низким уровнем шумов. Разрешение (In-Beam SE) – 1 нм при 30 кВ и 2 нм при 3 кВ. Разрешение (SE типа ET) – 1.2 нм при 30 кВ и 2.5 нм при 3 кВ. Разрешение в режиме низкого вакуума (LVSTD) – 1.5 нм при 30 кВ и 3 нм при 3 кВ. Увеличение – от ×4 до ×1 000 000 раз. Ускоряющее напряжение – от 200 В до 30 кВ. Ток пучка электронов – от 2 пА до 100 нА.