Просвечивающий электронный микроскоп Titan Themis G3, FEI

Супер-современный ПЭМ с корректором сферичесокй абберации, системами 3d сканирования и ускоряющим напряжением до 300 кВ. Система имеет несколько видов прободержателей для решения широчайшего спектра задач. Исследование микроструктуры металлических и наноструктурных материалов. Изучение дефектов в кристаллических материалах. Количественный и качественный анализ элементного состава с использованием EDX. Анализ локального элементного состава с использованием EELS и EDX. 3D визуализация частиц, частиц второй фазы или включений. Количественное и качественное исследование фазового состава, параметров кристаллической ячейки и кристаллической структуры образцов. Разрешающая способность в просвечивающем режиме: 120 пм. Разрешающая способность в сканирующем режиме с коррекцией сферических аберраций: 80 пм. Разрешающая способность монохроматора: 0.15 эВ. Разрешающая способность при 80 кВ: 100 пм. Высокостабильная сверхяркая электронная пушка Шоттки с возможностью работы в интервале ускоряющих напряжений: 80 кВ, 120 кВ, 200 кВ, 300 кВ.