Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, FEI
6 сентября 2021
440
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2019 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC для получения изображений с высоким разрешением и ионной Phoenix для наиболее быстрой, простой и наиболее точной пробоподготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии. Совмещение двух колон позволяет проводить эксперименты по визуализации пористости, химического состава, кристаллографической ориентировки зерен с использованием методики Slice-and-view. Микроскоп позволяет проводить изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен и т.д., поскольку оборудован детекторами ETD, TLD, DBS, EDX, EBSD, STEM 3, с возможностью работы в BF, DF и HAADF режимах.