Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Solaris, Tescan

Микроскоп оснащен двумя колонами электронной Triglav, сочетающей в себе уникальную комбинацию иммерсионной оптики и режима crossover-free для получения изображений с ультравысоким разрешением во всем диапазоне энергий электронного пучка и ионной Orage с галлиевым ионным пучком была разработана для удовлетворения самых строгих требований к пробоподготовке с помощью сфокусированного ионного пучка. Отличительной особенностью микроскопа является наличие режима crossover-free - это режим, в котором не происходит уширение электронного пучка, что позволяет получить изображения с высоким разрешением.