Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Solaris, Tescan
6 сентября 2021
246
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Чехия |
Год производства | 2018 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Да |
Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп оснащен двумя колонами электронной Triglav, сочетающей в себе уникальную комбинацию иммерсионной оптики и режима crossover-free для получения изображений с ультравысоким разрешением во всем диапазоне энергий электронного пучка и ионной Orage с галлиевым ионным пучком была разработана для удовлетворения самых строгих требований к пробоподготовке с помощью сфокусированного ионного пучка. Отличительной особенностью микроскопа является наличие режима crossover-free - это режим, в котором не происходит уширение электронного пучка, что позволяет получить изображения с высоким разрешением.