Спектральный эллипсометр SENresearch 4.0, Sentech Instruments
30 сентября 2021
283
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | Германия |
Год производства | 2020 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Да |
Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
---|---|---|---|
Многоцелевой экспериментальный масс-спектрометрический комплекс (ФТИ низких температур им. Б.И. Веркина, SOL-Instruments, EXtorr inc., BOC Edwards). | РФ | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |
Лазерно-спектрометрический комплекс на базе монохроматора/спектрографа MS7504i (SOL-Instruments, Hamamatsu) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |