Спектральный эллипсометр SENresearch 4.0, Sentech Instruments
30 сентября 2021
482
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Германия |
| Год производства | 2020 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для исследований с возможностью проведения измерений толщин одно- и многослойных пленок и пленочных структур под различными углами и для измерения оптических характеристик пленочных структур (коэффициент преломления, показатель поглощения) на различных типах поверхностей в УФ и видимого и ИК диапазонах длин волн. Измерение нанопленок.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Многоцелевой экспериментальный масс-спектрометрический комплекс (ФТИ низких температур им. Б.И. Веркина, SOL-Instruments, EXtorr inc., BOC Edwards). | РФ | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |
| Лазерно-спектрометрический комплекс на базе монохроматора/спектрографа MS7504i (SOL-Instruments, Hamamatsu) | Япония | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |