Рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп NTEGRA NANO IR, НТ-МДТ

Рассеивающий сканирующий ближнепольный оптический микроскоп (р‑СБОМ), предназначенный для инфракрасного спектрального диапазона. АСМ зонд располагается в фокусе оптической системы, направляющей излучение ИК лазера на образец и собирающей оптический отклик. Собранное излучение направляется в интерферометр Майкельсона для оптического анализа. Дальнепольная компонента собранного сигнала подавляется синхронным детектированием. Система позволяет детектировать амплитуду и фазу ближнепольного сигнала. Пространственное разрешение получаемых контрастов отражения и поглощения составляет примерно 10 нм и определяется только размерами острия зонда. Универсальный исследовательский АСМ с полным набором самых современных методов исследования морфологии, наномеханических, электрических и магнитных свойств образца, включая методы прыжковой микроскопии (HybriD ModeTM). Интеллектуальная система ScanTronicTM обеспечивает оптимальную для получения s-SNOM контрастов настройку режима взаимодействия зонда и образца.