Сканирующий электронный микроскоп Phenom XL G2, Thermo Fisher Scientific
23 декабря 2021
485
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2020 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | Принимаются твёрдые образцы из органических или неорганических полимеров или солей. Не допускается наличие низкомолекулярных (М < 1000) примесей (в том числе остаточные растворители). |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для стандартных условий применения SEM/EDX (растровой электронной микроскопии /энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии). Регистрация СЭМ-изображений для проводящих объектов или для непроводящих объектов с металлическим напылением. Полуколичественный элементный анализ с использованием энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии. Нанесение на образец токопроводящего слоя из металлического золота для последующего исследования на сканирующем электронном микроскопе.