Просвечивающий электронный микроскоп c термополевой пушкой Шоттки JEM-2100F, Jeol

Большое разнообразие полюсных наконечников и приставок позволяет сконфигурировать его для решения практически любых задач. Электронная пушка на основе термополевого катода Шоттки создает намного более яркий и стабильный пучок, нежели обычный термоэмиссионыый источник на основе катода из вольфрама или гексаборида лантана. Это очень важно для исследований методами растровой просвечивающей электронной микроскопии ультравысокого разрешения, работы со спектрометром характеристических потерь энергии электронов, а также элементного анализа наносистем. Очень яркий электронный пучок диаметром менее нанометра позволяет проводить анализ образцов с субнанометровым разрешением и высокой чувствительностью. Также термополевая пушка, благодаря высокой когерентности электронного пучка, позволяет получать высококонтрастные микрофотографии ультравысокого разрешения. По этой же причине, с помощью специальной бипризмы, на микроскопе можно работать в режиме электронной голографии.