Система ионного травления и полировки SEM Mill 1061, Fischione Instruments
13 января 2022
262
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2019 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Компактная, точная, система подготовки высококачественных образцов для сканирующей электронной микроскопии (СЭМ), позволяющая в кратчайшие сроки подготовить образцы для широкого спектра применений. Для многих современных материалов анализ в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ, англ. SEM – Secondary Electron Microscope) является идеальным методом для быстрого изучения структуры и свойств материала. Система является отличным инструментом для обеспечения характеристик поверхности образца, необходимых для визуализации и анализа методом СЭМ.