Просвечивающий электронный микроскоп Tecnai Osiris с X-FEG и SuperX детектором, FEI Company
3 февраля 2022
516
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2014 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для высочайшего качества визуализации в режимах просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ/TEM) и сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (СПЭМ/STEM). Встроенные детекторы и поддержка технологии ChemiSTEM позволяют выполнять анализ на субнанометровом уровне и трехмерную томографию в режиме EDX (энергодисперсионного микроанализа). Быстрое составление карт распределения химических элементов в режиме EDX со скоростью до 100 000 спектров/сек.