Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D, Hecus
10 февраля 2022
265
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Австрия |
| Год производства | 2007 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для измерения интенсивности рентгеновского рассеяния в диапазоне от 0,05 до 6 nm-1 (0,035-4,2 градусов), обусловленного неоднородностями электронной плотности с размерами от 1 до 100 нм, т.е. надатомной структурой твердого тела, полимеров, жидкостей, мицелл, биологических макромолекул в растворе, полидисперсных материалов, сплавов, фрактальных систем и других наноматериалов.