Растровый электронный микроскоп Scios с ионной пушкой и анализатором обратно рассеянных электронов EBSD, FEI Company
14 июля 2022
202
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
Страна производства | США |
Год производства | 2020 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 10 млн руб |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Да |
Наличие аккредитации | Да |
Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп позволяет получать изображения высокого разрешения и высокую пропускную способность при выполнении двухмерного и трехмерного анализа. В микроскопе применяется аналитическая двухлучевая технология сверхвысокого разрешения, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трехмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.