Растровый электронный микроскоп Scios с ионной пушкой и анализатором обратно рассеянных электронов EBSD, FEI Company
14 июля 2022
399
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2020 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп позволяет получать изображения высокого разрешения и высокую пропускную способность при выполнении двухмерного и трехмерного анализа. В микроскопе применяется аналитическая двухлучевая технология сверхвысокого разрешения, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трехмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.