| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Прибор позволяет проводить измерения не только в нано, но и в суб-нано диапазоне. Революционный метод измерения, позволяет измерять размеры наночастиц в диапазоне от 0,5 до 200 нм с высокой точностью простым и эффективным способом. Благодаря использованию метода индуцированной решетки (IG), загрязнение исходного образца не оказывает существенного влияния на результаты измерения. Таким образом, даже если образец смешан с некоторым количеством посторонних частиц, информация об анализируемых частицах регистрируется достоверно. Фильтрация проб для удаления крупных частиц не является обязательной.