Растровый электронный микроскоп JCM-5700 (Jeol)
14 сентября 2018
343
Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
Страна производства | Япония |
Год производства | 2011 |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Стоимость предоставления услуг | договорная |
Регламент предоставления услуги | — |
Объект коллективного пользования | Нет |
Наличие аккредитации | Нет |
Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для визуализации микро- и нанорельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат, так и в части проведения элементного анализа с помощью безазотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U)