Растровый электронный микроскоп JCM-5700 (Jeol)
14 сентября 2018
543
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Омская область, Омск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для визуализации микро- и нанорельефа поверхности образца с увеличениями в диапазоне от x8 до x300000 крат, так и в части проведения элементного анализа с помощью безазотного рентгеновского энергодисперсионного спектрометра (диапазон анализируемых элементов от Be до U)