Универсальная установка для механической прецизионной подготовки поверхности EM TXP, Leica
9 февраля 2023
154
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Швейцария |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | до 500 000 тыс. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначена для механической прецизионной подготовки поверхности образцов зеркального качества для TEM, SEM и LM исследований. Установка оснащена интегрированный стереомикроскоп с масштабной сеткой и регулировкой угла наклона держателя образцов. Для контроля качества полученных поверхностей нет необходимости использовать дополнительный микроскоп. Отлично подходит для предварительно подготовки образцов для ультрамикротома и ионного травления.