Система трехлучевого ионного травления EM TIC020, Leica
9 февраля 2023
158
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Швейцария |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 500 тыс. до 1 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначена для подготовки поверхности для SEM и AFM исследований, а также проведения EDS, WDS, Auger и EBSD анализа. Для работы на системе требуется минимальная предварительная механическая подготовка образца. К функциональным особенностям прибора можно отнести 3 Ar ионных пушки, столик, перемещающийся в трех направлениях и встроенный стереомикроскоп. Для обработки чувствительных к нагреву материалов (резина, водорастворимые полимеры) может быть установлен охлаждаемый столик, позволяющий охладить держатель образца и маску до -160° C. Установка может быть оснащена вращающимся столиком, столиком под несколько образцов и специальным портом для VCT500.