| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2010 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Микроскоп позволяет проводить исследования образцов практически любых типов, в широких диапазонах ускоряющих напряжений и токов пучка, в режиме высокого или низкого вакуума. Камера образцов микроскопа обладает солидным количеством портов и позволяет дооснастить РЭМ множеством разнообразных приставок (спектрометрами с дисперсией по энергиям и по длинам волн, системой дифракции отраженных электронов, системой катодолюминесценции, рамановским спектрометром) для решения широкого класса.