Классификация оборудования | |
Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
Страна производства | РФ |
Предоставляемое количество | 1 |
Условия использования | |
Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для исследования объектов методами локального элементного микроанализа с возможностью микрокартирования, просвечивающей рентгенографии и оптической микроскопии. Одновременно определяемые элементы: от 11Na до 92U. Специализированное программное обеспечение для рентгенографических исследований, локального элементного анализа и элементного картирования. Автоматизированный двухкоординатный предметный стол для позиционирования объекта и сканирования по заданной области образца (координаты X, Y).