Конфокальный микроскоп Axio CSM 700, Carl Zeiss

13 июля 2023
101
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Амурская область, Благовещенск
Страна производства Германия
Год производства 2013
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 1 до 10 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Прибор точно измеряет даже незначительную шероховатость на относительно “мягких” поверхностях без контакта. Он визуализирует поверхности в трехмерном виде с высоким разрешением и в истинном цвете, обеспечивает точное измерение трехмерных микроструктур и определяет шероховатость. Топографические измерения могут выполняться со скоростью более 100 кадров в секунду. Дополнительные преимущества включают надежное распознавание информации о высоте с шагом от 20 нм до миллиметрового диапазона, а также изображения с глубиной фокусировки, которая в противном случае возможна только с помощью сканирующих электронных микроскопов.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Микроскоп оптический Olympus CX41 с люминесцентной приставкой (набор комплектующих - CX-RFA2, CX-DMB-2, CX-DMG-2, U-LH50HG-1-5, 50W/AC/L2 MER-CURY производства OLYMPUS), фазовоконтрастным устройством и системой фотодокументации Япония Аренда, Заказ исследования Краснодар
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Исследовательский поляризационный микроскоп Lecia DM2700P для работы в проходящем и отраженном свете, в комплекте с цифровой камерой Lecia DFC495, подготовленный для проведения термобарометрических исследований Германия Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Цифровой микроскоп Idonus SMA (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV Китай Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа Япония Аренда, Заказ исследования Пермь