| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | РФ |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
Описание
Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также показателя преломления жидкости (при использовании специальной кюветы). Микропрофилометр позволяет исследовать отражающие объекты, состоящие из различных по своим электрическим свойствам материалов (диэлектрик, проводник и пр.) и рассчитывать параметры шероховатости (Ra, Rz, Rmax и пр.). Для расширения диапазона измерения высот профиля поверхности в микроскопе используется метод регистрации на нескольких длинах волн (при использовании специального осветительного блока).