Программно-аппаратный комплекс для анализа хрупкой/вязкой составляющей Thixomet PRO, Тиксомет

4 апреля 2024
38
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Москва
Страна производства РФ
Год производства 2022
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Заказ исследования
Стоимостная группа от 500 тыс. до 1 млн. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Да
Наличие аккредитации Да
Наличие ГОСТированной методики Да

Описание

Предназначен для определения содержания включений в стали и проведения других металлографических и электронно-микроскопических исследований.
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок Япония Аренда, Заказ исследования Красноярск
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4.6 для управления камерой Германия Аренда, Заказ исследования Саратов
Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150 Германия Аренда, Заказ исследования Томск
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) Великобритания Аренда, Заказ исследования Санкт-Петербург
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ РФ Аренда, Заказ исследования Москва
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP Великобритания Аренда, Заказ исследования Новосибирск