Наименование |
Страна производства |
Условия использования |
Расположение |
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Пермь |
Микроскоп прямой Olympus СХ41 с поляризационной насадкой и флуоресцентным осветителем CX-RFA-2 в комплекте с видеокамерой DP71 (12.5 миллиона пикселей, эквивалентна ISO 200/400/800/1600) с программным обеспечением Cell-F, предназначенным для съемки многок |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Красноярск |
Стенд TM-1000 tabletop SEM для настольного электронного сканирующего микроскопа TM-1000 (Hitachi) |
Япония |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Высоковакуумная низкотемпературная система «PlasmoScope-2M» для исследования нанорельефа, магнитных и тепловых свойств наноструктур методами АСМ/СТМ/МСТ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Микроскоп Axioscope A1 производства Cart Zeiss с программным обеспечением (FISH-диагностика) Axiovision 4.6 для управления камерой |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Саратов |
Электронный микроскоп серии Zeiss Supra 55 с блоком для электронно-лучевого экспонирования Raith 150 |
Германия |
Аренда, Заказ исследования |
Томск |
Дифрактометрический модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1(Oxford Instruments) |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Санкт-Петербург |
Электромеханическая ячейка "GPI" с прецизионной механикой и электронным блоком управления процессом изготовления игл для СТМ |
РФ |
Аренда, Заказ исследования |
Москва |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на трансмиссионном электронном микроскопе Tecnai 20 |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |
Комплект приставок для проведения тонких исследований на электронном микроскопе EV 050 XVP |
Великобритания |
Аренда, Заказ исследования |
Новосибирск |