Анализатор удельной поверхности и пористости NOVAtouch NT LX4, Quantachrome
13 февраля 2025
261
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2018 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Предназначен для измерения удельной поверхности по методам БЭТ и STSA, а также анализа размеров пор и их распределения по размерам. Основным преимуществом NOVAtouch по сравнению с другими адсорбционными приборами, помимо точности и скорости измерений, является наличие в одном блоке станций подготовки и станций измерения. Программное обеспечение предоставляет пользователю дополнительные возможности по расчёту около полусотни характеристик исследуемых образцов.