| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Амурская область, Благовещенск |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2009 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Качественный и количественный анализ в диапазоне от бериллия Be по уран U на рентгеновском спектрометре XRF-1800 за 2,5 минуты
Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм. Локальный анализ в точке 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры. Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент). Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий.
Картирование распределения элементов с шагом 250 мкм. Локальный анализ в точке 500 мкм с помощью микроколлиматоров и встроенной цифровой камеры. Качественный и количественный анализ с применением линий высших порядков (патент). Определение толщины и элементного состава плёнок органической природы методом фундаментальных параметров с использованием линий Комптоновского рассеяния (патент), определение толщины и элементного состава неорганических покрытий.