Автоэмиссионный сканирующий (растровый) электронный микроскоп Mira II LMU, TESCAN
18 мая 2026
58
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Саратовская область, Саратов |
| Страна производства | Чехия |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Универсальный растровый электронный микроскоп с широкими возможностями. Разрешение в режиме высокого вакуума (SE, InBeam): 1,0 нм при 30 кВ, 1,2 нм при 15 кВ, 2,0 нм при 3 кВ, 3,5 нм при 1 кВ. Разрешение в режиме низкого вакуума (BSE): 2,0 нм при 30 кВ. Увеличение: от 4х до 1000000х. Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ. Ток зонда: от 2 пА до 100 нА. Камера образцов: внутренний диаметр: 230 мм; ширина дверцы: 148 мм; количество портов: 11. Рабочее значение вакуума в камере: режим высокого вакуума: < 1*10-2 Па; режим переменного вакуума: 7 - 150 Па. Рабочее значение вакуума в пушке: < 3*10-7 Па.