Сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe, Thermo Fisher Scientific
19 октября 2026
10
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Москва |
| Страна производства | США |
| Год производства | 2017 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 1 до 10 млн. руб. |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Да |
| Наличие аккредитации | Да |
| Наличие ГОСТированной методики | Да |
Описание
Прецизионная двухлучевая система прибора обладает несколькими модификациями, позволяющими сконфигурировать и адаптировать систему под самые сложные задачи для высокоточных исследований или обеспечения производства. Получаемые двух и трехмерные изображения изучаемых объектов могут быть дополнены информацией о химическом составе, подготовке образцов для просвечивающей микроскопии, а также модификацией поверхности и нанопрототипированием.