Микроскоп двух-лучевой электронный Quanta 3D 200i :Блок 1
14 сентября 2018
711
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Ярославская область, Ярославль |
| Страна производства | Нидерланды |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Получение изображений методом СЭМ структуры поперечных сечений и поверхностей образцов тонкослойных наноструктурных объектов (проводящих и непроводящих), в том числе тонких пленок, покрытий, наночипов и электролит-электродных структур, с пространственным разрешением до 1 нм.
Анализ изображений с получением численных данных о размерах слоев, о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ, межслоевых интерфейсов и других особенностей структуры.
Применение методов препарирования тонкослойных наноструктурных объектов для ПЭМ
Анализ изображений с получением численных данных о размерах слоев, о размерах и форме нанокристаллитов (гранул), пор, межкристаллитных границ, межслоевых интерфейсов и других особенностей структуры.
Применение методов препарирования тонкослойных наноструктурных объектов для ПЭМ