Микроскоп металлографическийс ПО и цифровой камерой в комплекте (model BX51M)

14 сентября 2018
228
Классификация оборудования
Страна, регион, город Российская Федерация, Волгоградская область, Волгоград
Страна производства Япония
Год производства 2010
Предоставляемое количество 1
Условия использования
Аренда|Заказ исследования
Стоимостная группа до 500 000 тыс. руб.
Стоимость предоставления услуг договорная
Регламент предоставления услуги
Объект коллективного пользования Нет
Наличие аккредитации Нет
Наличие ГОСТированной методики Нет

Описание

Применяется в научном и образовательном процессе в качестве лабораторной базы
Найти аналог
Вам может быть интересно
Наименование Страна производства Условия использования Расположение
Микроскоп медицинский инвертированный IX 81 для лабораторных исследований, включая приставку с конфокальной системой FV с модулем детекции на основе фильтров, с 4-мя лазерами (УФ диодный 405 нм, мультилинейный аргоновый 458нм / (476нм) / 488нм / 515 нм; г Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Микроскоп оптический Olympus CX41 с люминесцентной приставкой (набор комплектующих - CX-RFA2, CX-DMB-2, CX-DMG-2, U-LH50HG-1-5, 50W/AC/L2 MER-CURY производства OLYMPUS), фазовоконтрастным устройством и системой фотодокументации Япония Аренда, Заказ исследования Краснодар
Растровый электронный микроскоп JSM-6460LV (JEOL) с приставкой рентгеновского микроанализа INCAx-sight, приставкой регистрации спектров микро-катодолюминес-ценции MonoCL3 и приставкой регистрации дифракции обратно-рассеянных электронов Япония Аренда, Заказ исследования Москва
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI) США Аренда, Заказ исследования Москва
Микроскоп для лабораторных исследований Axio Imager со штативом М2. Блок корреляционной микроскопии для биологических исследований (Carl Zeiss) Германия Аренда, Заказ исследования Казань
ИК-микроскоп Idonus IR (Idonus) Швейцария Продажа Москва
Сканирующий электронный микроскоп для работы в режиме высокого и низкого вакуума с системой для микроанализа JEOL JSM-6390LV Китай Аренда, Заказ исследования Пермь
Сканирующий электронный микроскоп типа S-3400N для работы при различных давлениях с приставкой для локального микрорегнгеноспектрального анализа Япония Аренда, Заказ исследования Пермь
Микроскоп LEICA DM IRB (Leica Mirosystems) Германия Аренда, Заказ исследования Новосибирск
Сканирующий электронный микроскоп JSM-6390LV (JEOL), интегрированный с энергодисперсионным анализатором Oxford INCAEnergy (Oxford Instrument) Великобритания Аренда, Заказ исследования Калининград