| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Санкт-Петербург |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | от 15 000 руб. |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для пределения размеров нанокристаллитов, анализа структурных изменений кристаллических фаз при изменении температуры, влажности и давления. Быстрый анализ с применением позиционно-чувствительного детектора Автоматический режим сбора данных и дальнейшая обработка результатов программным пакетом