Оже-микроанализатор JAMP-9500F c набором стандартов C321 Oxford instruments Analytical Ltd
14 сентября 2018
257
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Калининградская область, Калининград |
| Страна производства | Япония |
| Год производства | 2008 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
Предназначен для исследования внутренней структуры наноструктурированных материалов и многослойных покрытий. Наряду с качественным анализом поверхности предоставляет также информацию о количественном составе поверхности, исходя из интенсивности Оже-пиков. Позволяет анализировать химический состав поверхности и приповерхностных слоев, а в сочетании с ионным травлением – получать профили элементного и химического состава тонкопленочных образцов. Применим как для исследования материалов с объемной кристаллической структурой, так и для поликристаллических и аморфных материалов. Важным требованием к исследуемым материалам является совместимость с условиями высокого вакуума.
| Наименование | Страна производства | Условия использования | Расположение |
|---|---|---|---|
| Экстракционная технологическая система SFE1000M1-2-FMC-50 (Thar Instruments, Inc.). | США | Аренда, Заказ исследования | Махачкала |
| Центрифуга лабораторная настольная с охлаждением и горизотальным ротором с набором адаптеров Allegra 64R | США | Аренда, Заказ исследования | Томск |