Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker AXS)

Предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме, с целью обеспечить:XRDфазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы);исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев;изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра);изучение структурных превращений в твердых растворах.