Масс-спектрометр, рабочая аналитическая камера, время пролётный массспектрометрический анализатор, ионная пушка модели, устройство компенсации электрического заряда, вакуумная система откачки, импульсная система экстракции вторичных ионов.
14 сентября 2018
284
| Классификация оборудования | |
| Страна, регион, город | Российская Федерация, Калининградская область, Калининград |
| Страна производства | РФ |
| Год производства | 2011 |
| Предоставляемое количество | 1 |
| Условия использования | |
| Стоимостная группа | от 10 млн руб |
| Стоимость предоставления услуг | договорная |
| Регламент предоставления услуги | — |
| Объект коллективного пользования | Нет |
| Наличие аккредитации | Нет |
| Наличие ГОСТированной методики | Нет |
Описание
(SIMS)- метод исследования вещества, путём определения отношения массы к заряду (качества) и количества заряженных частиц, полученных в результате распыления поверхности образца первичным сфокусированным ионным пучком. Используется для анализа состава твёрдых поверхностей и тонких плёнок. Является самой чувствительной из техник анализа поверхностей, способной обнаружить присутствие элемента в диапазоне 1 часть на миллиард.